问题：
[单选] 射线照像影像会放大，下面叙述中正确的是（）
A、射源至试件距离越远，影像放大得越大。B、射源至试件的距离与试件至底片距离之比越大，影像放大得越大。C、射源至试件的距离与试件至底片距离之比越小，影像放大得越大。D、射源至试件的距离与影像放大无关。
问题：
[单选] 射线照像是以射线穿透试件而投影在底片上的，因此影像轮廓会（）
A、放大。B、变形。C、模糊。D、以上都对。
问题：
[单选] 当其他操作条件不变，管电流的变化会引起X射线管发生的射线强度变化，其变化大致与管电流的变化成比例，是什么因素影响管电流与射线强度完全按比例变化？（）
A、波长变化不完全成比例。B、管电压和X射线设备的电压波形随负载发生变化。C、电流在线性比率上才能改变。D、散射线不能按比率变化。
A、先调整零点。B、经常用已知黑度的底片校准。C、以上都对。D、以上都错。
问题：
[单选] 为了保护X射线管的使用寿命，每次使用时应先（）
A、设备接地。B、按制造厂家的规定程序训机。C、用探测仪探测辐射量并测定管制区。D、以上都对。
问题：
[单选] 使用底片套（底片暗匣）时应注意（）
A、清洁。B、防潮。C、防止破损。D、以上都对。
A、为了工作方便，底片与增感屏同装在底片套内时，每次可多装一些，以后慢慢取用。B、与增感屏同装在一起的底片有增感屏保护，在较高温度下也没有关系。C、有增感屏保护，可防止底片受潮。D、以上都不对。
问题：
[单选] 当射源（或焦点）尺寸一定时，被透工件的缺陷尺寸越小，则（）
A、影像放大率Mf数越小，因而缺陷越难发现。B、影像放大率Mf数越大，而缺陷越难观察。C、形状修正系数σ越大，因而缺陷检出率越低。D、以上都不是。
问题：
[单选] 在射线底片上，使缺陷影像发生畸变最重要的原因是（）
A、射源尺寸。B、射源到缺陷的距离。C、缺陷到胶片的距离。D、缺陷相对于射源和胶片的位置和方向。
问题：
[单选] 下面关于几何修正系数σ的叙述，哪一条是错误的？（）
A、当缺陷尺寸小于射源尺寸时，才需要引入σ对底片对比度进行修正。B、σ值越小，几何条件对底片对比度的影响越大。C、为提高σ值而改变透照布置，常用的方法是增大焦距。D、为提高底片对比度，应尽量采用σ>1的透照布置。
