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[问答题] Open-short串行静态测试方法优缺点。

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[问答题] Open-short功能测试优缺点。

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[问答题] IDD静态电流测试方法。

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[问答题] VOH/IOH静态测试方法。

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[问答题] IIL串行测试方法。

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[问答题] IIH/IIL集体测试法优缺点。

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[问答题] 测试的一般要求。

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[问答题] 静电的产生。

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[问答题] 静电对电子器件的危害。

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[问答题] 基本注意事项。

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